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参加2008 年度全国微束分析标准化技术委员会年会

作者: 时间:2009-04-22

  项目名称:参加2008 年度全国微束分析标准化技术委员会年会
  起止时间:2008年11月3-5 日
  项目负责人:李玉武
  承担单位:国家环境分析测试中心
  主要参加人员:李玉武
  内容概要:2008年度全国微束分析标准化技术委员会年会于2008年11月3-5 日在北京召开,测试中心李玉武委员参加了此次会议。
  会议由闫寿科副主任委员主持。主要内容如下:
  1、刘芬秘书长汇报了2008年秘书处的工作。电子探针和扫描电镜分会陈家光主任做了SAC/TC38/SC1的工作报告。表面分会沈电洪主任做了CAS/TC38/SC2的工作报告。 曾荣树副主任委员报告了ISO/TC202的年会情况。
  2、会议审查了3个标准送审稿:《微束分析 扫描电镜术语》、《 扫描电镜二次电子像分辨率检测方法》和《微束分析—扫描电子显微镜能谱分析性能的检验方法》。会议通过投票一致同意《微束分析 扫描电镜术语》修改后可形成报批稿上报国家标准化管理委员会审批。其他2个标准由于问题较多,会议建议标准编写人员完成修改后,2009年召开年会时再进行审查。

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2008年
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