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我中心分析测试技术研究室举办XRF微区分析讲座

作者: 时间:2015-06-23

6月19日,比利时安特卫普大学XRF应用研究中心(AXE)Piet Van Espen教授应邀来我中心举办了“历史绘画及颗粒物样品XRF微区分析”讲座,介绍了该中心近年来在XRF微区分析领域取得的进展,重点介绍了数据压缩及拟合方法简化计算方法。这些方法适应了微区分析海量数据分析处理需要。其中对梵高油画的分析结果在美国分析化学杂志作为封面论文发表,得到全世界几十家新闻媒体报道。在介绍数据分析技术的同时,教授谆谆告诫青年人,从事科学研究,要静下心、沉下去、耐得住寂寞。讲座结束后,分析室就单颗粒自动分析合作可能性与教授进行了探讨。

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